Měření tloušťky vrstev

Mikroskopy pro přesné měření tloušťky jednotlivých vrstev a analýzu vícevrstvých materiálů. Jsou vhodné pro kontrolu fólií, laminátů, povlaků a dalších vrstevnatých struktur.

Umožňují vizuální kontrolu struktury materiálu, rozlišení jednotlivých vrstev a jejich přesné rozměrové vyhodnocení. Nacházejí uplatnění ve výrobní kontrole, laboratořích kvality, vývoji materiálů i elektronickém průmyslu.